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蔡司ZEISS 聚焦離子束電鏡Crossbeam系列無論是切割、成像或進行 3D 分析，Crossbeam 系列都能極大地提升您的應用體驗。使用 Gemini 電子光學系統，您可以從掃描電子顯微鏡（SEM）圖像中獲取真實的樣品信息。Ion-sculptor FIB 鏡筒引入了全新的 FIB 加工方法，能夠減少樣品損傷，提升樣品質量，從而加快實驗進程。

蔡司ZEISS場發射掃描電鏡Sigma系列產品將場發射掃描電子顯微鏡技術與良好的用戶體驗緊密地結合在一起。利用 Sigma 直觀的 4 步工作流程，可輕松實現構建成像和分析程序，提高工作效率。您可以在更短的時間內采集到更多數據。Sigma 可以搭載多種探測器，以滿足不同應用需求：顆粒物、表面結構、納米結構、薄膜、涂層及多層膜等樣品成像。

蔡司ZEISS 場發射掃描電鏡Gemini系列 這一名字代表著可以輕松實現亞納米級別高分辨率的成像技術，足以滿足您在面對高要求的材料和生命科學項目時的成像要求。將高檢測效率與出色的分析性能相結合，使用非浸沒式物鏡技術即可實現 1kV 以下的亞納米分辨率。三款special設計的 Gemini 電子光學鏡筒以及一個大型靈活的新型樣品室可以滿足您所有的成像和分析需求。